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进行电子产品高低温老化测试的原因
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  • 2021-12-29
  • 来源:中科检测
  伴随着电子技术的发展,电子产品越来越集成化,结构更加精细了,工序越来越多,制造工艺越来越复杂,这样在给生产带来潜在的缺陷。电子产品在生产与制造中,由于设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因而导致的产品质量问题通常有两类:
 
  第一类是产品的性能参数未能达到标准,生产的产品达不到使用要求;
 
  第二类是普通检测手段无法检测到的潜在缺陷,而需要在使用过程中慢慢地暴露出来,像硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片与管壳热阻匹配不好等等。
 
 
高低温老化测试

 
  通常这类缺陷需要在元器件工作于额定功率及正常工作温度下运行大概1000小时才能完全激活(暴露)。很明显,对每只元器件测试1000个小时是不现实的,因此必须对其施加热应力与偏压,比如进行高温功率应力试验,用来加速这种缺陷的提早暴露。
 
  也就是说,对电子产品施加热、电、机械或多种综合的外部应力,模拟恶劣的工作环境,消除加工应力和残余溶剂等物质,令产品提前出现潜伏故障,尽早使产品通过失效浴盆特性初期阶段,进入高可靠的稳定周期。
 
  经过高温老化能够使元器件的缺陷、焊接、装配等生产过程中存在的隐患提前暴露,老化后再进行电气参数测量,对失效或变值的元器件进行筛选剔除,使产品尽可能早期的失效消灭于正常使用中,从而确保出厂的产品可以经受得起时间的考验。
 
  以上就是中科检测为大家介绍的电子产品高低温老化测试的原因,希望对大家有所帮助。
 
  中科检测是独立第三方检测机构,具有专业检验检测、业务对接以及技术支持团队,不仅可开展高低温老化测试,同时还提供病毒检测、可靠性测试、毒理检测等服务。我们的目标覆盖百强检测企业,以真诚的服务赢得众多客户的认可和好评。


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