通信用光电子器件变频振动试验

中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的变频振动试验服务。

我们的服务专项服务 通信用光电子器件变频振动试验

通信用光电子器件变频振动试验试验背景

振动试验可模拟一连串振动现象，测试产品在寿命周期中，是否能承受运输或使用过程的振动环境的考验，也能确定产品设计和功能的要求标准。通信用光电子器件变频振动试验可确定在规定频率范围内振动对光电子器件的影响。
中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的变频振动试验服务。

通信用光电子器件变频振动试验试验范围

1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。

通信用光电子器件变频振动试验试验方法

按以下程序进行试验：
a）试验前应对试样的主要光电特性进行测试；
b）将试样外壳刚性地固定在振动台上，引线或光纤也应适当固定；
c）试样在振动台上作等幅简谐振动，其振幅两倍幅值为（1.52±0.1）mm。在向下变频率时，控制振幅大小，向上变频率时，控制峰值加速度值。
振动频率在20 Hz～2 000 Hz范围内近似对数变化。从20 Hz~2 000 Hz，然后从2 000 Hz回到20 Hz的时间应不少于4 min ；
d）在X1，Y1，Z1的三个方向上各进行4次循环，总共12次。整个周期所需时间至少为48 min。

通信用光电子器件变频振动试验试验标准

GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB/T 4937.12-2012 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动
GB/T 4857.10-2005 包装运输包装件基本试验第10部分：正弦变频振动试验方法
GB/T 4857.23-2021 包装运输包装件基本试验第23部分：垂直随机振动试验方法
GB/T 4857.7-2005 包装运输包装件基本试验第7部分：正弦定频振动试验方法
GB/T 2423.102-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合
GB/T 2423.58-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fi：振动混合模式
GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合
GB/T 2423.63-2019 环境试验第2部分：试验方法试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（混合模式）综合 GB/T 2424.26-2008 电工电子产品环境试验第3部分：支持文件和导则振动试验选择