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高温存储测试 项目介绍
电子元器件的许多故障是由于体内和表面的各种物理化学变化引起的。当环境温度升高后，化学反应速率大大加快，故障过程也得到加速。有缺陷的元器件就会暴露。高温存储测试对表面污染、引线键合不良和氧化层缺陷有很好的筛选作用。
高温存储 测试方法
在试验箱中模拟高温条件，对元器件施加高温应力（无电应力），加快部件体内和表面各种物理化学变化的化学反应速率，加速故障过程，使有缺陷的部件尽快暴露；提前消除潜在缺陷。
高温存储 测试标准
GB/T 32065.5-2015海洋仪器环境试验方法 第5部分：高温贮存试验
GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法.试验B:高温
GJB 150.3-86军用设备环境试验方法 高温试验
GJB 150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 360B-2009电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命试验
RTCA/DO-160G-2010机载设备环境条件和试验程序 第4部分：湿度-高度
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