抛光片检测

抛光片是一种用于抛光和打磨的工具，通常由金属、玻璃、塑料、橡胶、钻石等不同材料制成。中科检测提供抛光片检测服务。

我们的服务建筑材料 抛光片检测

检测介绍检测介绍

抛光片是一种用于抛光和打磨的工具，通常由金属、玻璃、塑料、橡胶、钻石等不同材料制成。抛光片常用于金属、非金属材料表面的精细磨光和高光亮度处理。在制造过程中，抛光片通常由多层不同颜色的材料叠加压制而成，其材质包括天然石材、合成石材、塑料等。抛光片也指由石英砂经过提纯、拉晶、切片、抛光等工艺处理后形成的半导体硅片，可直接用于制作半导体器件，广泛应用于存储芯片与功率器件等，也可作为外延片、SOI硅片的衬底材料。中科检测是专业的抛光片检测机构，可开展各种抛光片检测服务。

检测项目检测项目

理化性能：掺杂剂、少数载流子寿命、氧含量、碳含量、晶体完整性、直径、表面取向及其偏离度、参考面长度(主参考面直径)、切口尺寸、参考面位置、切口位置
电学性能：导电类型、电阻率、径向电阻率
几何参数：弯曲度、翘曲度、总厚度变化、总平整度、局部平整度
其他项目：氧化诱生缺陷、表面金属、体金属（铁）、边缘轮廓、表面质量、表面粗糙度、密度

检测标准检测标准

GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片
GB/T 19921-2018 硅抛光片表面颗粒测试方法
GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法